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針對經常有客戶問及容值偏低的問題，本文從儀器差異、測試環境、測試條件、材料老化等方面對此作出完整之說明及解釋,以期對MLCC產品容值偏低現象有進一步的認識。

1、量測儀器差異對量測結果之影響.
  高容量的電容量測時更易有容值偏低現象，主要原因是電容兩端之實際施于電壓無法達到測試條件需求所致，也就是說加在電容兩端的電壓由于儀器本身內部阻抗分壓的原因與儀器顯示的設定電壓不同。為使量測結果誤差降至*低,建議客戶將儀器調校並將儀器的設定電壓與實際在產品兩端所測之電壓盡量調整,使實際于待測物上之輸出電壓一致.
2、測試條件對量測結果之影響
首先考慮量測條件的問題。對于不同容值的電容會采用不同的條件來量測其容值。主要在電壓設定和測試頻率設定上有差異，不同容值的量測條件如下表所示:

電容	AC 電壓	頻率
C>10μF	1.0± 0.2Vrms	120Hz
1000pF<C≦10μF	1.0± 0.2Vrms	1kHz
C≦ 1000pF	1.0± 0.2Vrms	1MHz

 
注： 表中所列之電壓是指實際加在電容兩端的有效電壓。
因儀器的原因，電容兩端實際的輸出電壓與設定的量測電壓實際上可能會有所偏差。
3、影響高容量測之因素
3.1 儀器內部阻抗之大小因素.
由于不同測試儀器之間的內部阻抗不相同，造成儀器將總電壓分壓而使到達測試物的實際電壓變小。在實際的測試動作中，我們可以使用萬用表等測試夾具兩端的實際電壓，以驗證實際施于測試物的輸出電壓。
3.2不同阻抗的測試儀器對比
儀器內阻100Ω壓降
1V*[100Ω/(100Ω+16Ω)]=0.86V
10uF測試電容兩端電壓 ：
1V*[16Ω/(100Ω+16Ω)]=0.14V
平均電容值讀數 ： 6-7μF

                     儀器內阻
                                   電容


儀器內阻1.5Ω壓降 ：
1V*[1.5Ω/(1.5Ω+16Ω)]=0.086V
10uF測試電容兩端電壓  ：
1V*[16Ω/(1.5Ω+16Ω)]=0.914V
平均電容值讀數  ： 9-10μF

綜合以上實驗，可以得到有效電壓與電容量的關系如下：